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Process Optimization of HfAlO Trapping Layer for High Performance Charge Trap Flash Memory Application 期刊论文
ECS transactions, 2013
作者:  Liu M(刘明);  Huo ZL(霍宗亮);  Zhang D(张冬)
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高介电常数HfAlO氧化物薄膜基电荷俘获型存储器件性能研究 期刊论文
河南大学学报(自然科学版), 2013, 卷号: 43, 期号: 3, 页码: 249-252
作者:  汤振杰[1];  张婷[2];  殷江[3]
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