CORC

在结果中检索

CORC

浏览/检索结果: 共9条，第1-9条 帮助

限定条件    
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Infrared spectroscopic ellipsometry of (Pb, La)(Zr, Ti)O3 thin films on platinized silicon 期刊论文
Physics Letters A, 2004, 卷号: 320, 期号: 5--6
作者:  Z.G. Hu ∗;  F.W. Shi;  T. Lin;  Z.M. Huang;  G.S. Wang
收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2011/11/30
Optical anisotropy of wurtzite GaN on sapphire characterized by spectroscopic ellipsometry 期刊论文
Semiconductor Science and Technology, 2004, 卷号: 19, 期号: 3
作者:  C X Lian;  X Y Li1 and J Liu
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2011/11/30
Spectroscopic-ellipsometry characterization of the interface layer of PbZr0.40Ti0.60O3/LaNiO3/Pt multilayer thin films 期刊论文
Journal of Vacuum Science & Technology A, 2004, 卷号: 22, 期号: 4
作者:  Z. G. Hu;  Z. M. Huang;  Y. N. Wu;  G. S. Wang;  X. J. Meng
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2011/11/30
Spectroscopic ellipsometry chraracterization of the interfacial roughness in simox wafers 期刊论文
THIN SOLID FILMS, 2004, 卷号: 459, 期号: 1-2, 页码: 63-66
Li,WJ; Song,ZR; Tao,K; Cheng,XH; Yang,WW; Yu,YH; Wang,X; Zou,SC; Shen,DS
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2012/03/24
Optical constants and their dispersion of Ag-MgF2 nanoparticle composite films 期刊论文
中国光学快报（英文版）, 2004, 卷号: No.4, 页码: 243-245
作者:  Sun DM(孙大明);  Sun ZQ(孙兆奇)
收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2019/04/24
Effects of deposition conditions and annealing process on the infrared optical properties of diamond films grown by MPCVD 会议论文
FIFTH INTERNATIONAL CONFERENCE ON THIN FILM PHYSICS AND APPLICATIONS, 2004-01-01
作者:  Wang, LJ[1];  Xia, YB[2];  Zhang, ML[3];  Su, QF[4];  Gu, BB[5]
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/05/10
Fitting models of IRSE data for diamond films on silicon grown by MPCVD method 期刊论文
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 2004, 卷号: 270, 页码: 228-231
作者:  Wang, LJ[1];  Xia, YB[2];  Shen, HJ[3];  Zhang, ML[4];  Su, QF[5]
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/05/10
Optical and photoelectrical characterization of as-deposited and annealed PECVD polysilicon thin films 会议论文
Micro- and Nanoelectronics 2003, Zvenigorod, Russia, October 6, 2003 - October 10, 2003
作者:  Khomich, A.V.;  Kovalev, V.I.;  Vedeneev, A.S.;  Kazanskii, A.G.;  Forsh, P.A.
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2017/01/20
Optical anisotropy of wurtzite GaN on sapphire characterized by spectroscopic ellipsometry 期刊论文
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2004, 卷号: 19, 期号: 3, 页码: 417-420
作者:  Lian, CX;  Li, XY;  Liu, J
收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2020/01/03

©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace