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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：1998     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Spectroellipsometric study of optical and electrical properties of buried CoSi2, layers in silicon produced by MEVVA implantation 期刊论文 PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE), 1998, 卷号: Vol.3558, 页码: 561-570 作者:  Guo, WS;  Wong, SP;  Zhu, ZQ 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/02/25 spectroscopic ellipsometry  optical property  CoSi2  MEVVA ion source   Spectroellipsometric study of Diamond-like carbon films 期刊论文 PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE), 1998, 卷号: Vol.3558, 页码: 571-577 作者:  Guo, WS;  Wong, SP;  Zhu, ZQ 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/02/25 spectroscopic ellipsometry  Diamond-like carbon  sp(3)/sp(2) ratio   Spectroellipsometric study of SiC/Si heterostructures produced by MEVVA implantation 期刊论文 PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS (SPIE), 1998, 卷号: Vol.3558, 页码: 578-586 作者:  Guo, WS;  Zhu, ZQ;  Wong, SP 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/02/25 spectroscopic ellipsometry  SiC  MEVVA ion source