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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：1992     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 DIFFRACTION CHARACTERIZATION OF TOTALLY RELAXED, PARTIALLY RELAXED, AND UNRELAXED SEMICONDUCTOR STRAINED-LAYER SUPERLATTICES 期刊论文 JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1992, 卷号: 72, 期号: 11, 页码: 5240 DUAN, XF; FUNG, KK 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2013/09/17 BEAM ELECTRON-DIFFRACTION  X-RAY-DIFFRACTION  CHEMICAL VAPOR-DEPOSITION  ELASTIC RELAXATION  MULTILAYERS  FILMS