×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
山东师范大学 [21]
北京大学 [19]
半导体研究所 [12]
兰州大学 [6]
江苏大学 [1]
内容类型
期刊论文 [53]
其他 [4]
会议论文 [2]
发表日期
2015 [1]
2013 [2]
2012 [1]
2011 [1]
2010 [4]
2009 [8]
更多...
学科主题
Biochemist... [1]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共59条,第1-10条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
ABC Transporter CslAB, a Stabilizer of ComCDE Signal in Streptococcus mutans
期刊论文
JUNDISHAPUR JOURNAL OF MICROBIOLOGY, 2015, 卷号: 8, 期号: 8, 页码: e22965
作者:
Liu, Tianlei[1]
;
Xue, Shoubin[2]
;
Wang, Liang[3]
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2019/12/24
CslAB
ComCDE
Two Component Signal Transduction System
Electrophoretic Mobility Shift Assay
Streptococcus mutans
缺氧诱导因子1与缺氧性肺动脉高压的研究进展
期刊论文
医学综述, 2013, 期号: 19, 页码: 10-12
作者:
薛守斌
;
王东
;
刘巍
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2016/09/13
缺氧诱导因子1
缺氧
肺动脉高压
炎症
细胞凋亡
Total ionizing dose and single-event effect in vertical channel double-gate nMOSFETs
期刊论文
semiconductor science and technology, 2013
Tan, Fei
;
An, Xia
;
Xue, Shoubin
;
Huang, Liangxi
;
Wu, Weikang
;
Zhang, Xing
;
Huang, Ru
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2015/11/13
DISPLACEMENT DAMAGE
SILICON
DEVICES
CELL
大肠杆菌表达的TaqDNA聚合酶的纯化
期刊论文
遗传, 2012, 卷号: 34, 期号: 3, 页码: 371-378
作者:
刘天磊
;
薛守斌
;
王芳
;
朱琳颖
;
梁微微
收藏
  |  
浏览/下载:3/0
  |  
提交时间:2016/09/13
TaqDNA聚合酶
724树脂
阳离子交换层析
Investigation of the OFF-State Behavior in Deep-Submicrometer NMOSFETs Under Heavy-Ion Irradiation by 3-D Simulation
期刊论文
2011
Xue, Shoubin
;
Wang, Pengfei
;
Huang, Ru
;
Zhang, Xing
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2015/11/10
Heavy-ion irradiation
NMOSFETs
OFF-state leakage
physical damage region
SHALLOW-TRENCH ISOLATION
THIN GATE OXIDES
CMOS TECHNOLOGIES
SOFT BREAKDOWN
DRAIN CURRENT
MOSFETS
CHARGE
IMPACT
A model for radiation-induced off-state leakage current in N-channel metal-oxide-semiconductor transistors with shallow trench isolation
期刊论文
应用物理杂志, 2010
Wang, Sihao
;
Pei, Yunpeng
;
Huang, Ru
;
Wang, Wenhua
;
Liu, Wen
;
Xue, Shoubin
;
An, Xia
;
Tian, Jingquan
;
Wang, Yangyuan
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2015/11/10
elemental semiconductors
isolation technology
MOSFET
semiconductor device breakdown
semiconductor doping
silicon
MOS DEVICES
CO-60
Deteriorated radiation effects impact on the characteristics of MOS transistors with multi-finger configuration
期刊论文
microelectronics reliability, 2010
Wang, Jian
;
Wang, Wenhua
;
Huang, Ru
;
Pei, Yunpeng
;
Xue, Shoubin
;
Wang, Xin&apos
;
Fan, Chunhui
;
Wang, YangYuan
;
an
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2015/11/12
DEVICES
OXIDES
Single event effects resulted by parasitic structures of MOS transistors in SOI CMOS ICs and their hardness
其他
2010-01-01
Liu, Zhongli
;
Huang, Ru
;
Gao, Jiantou
;
Xue, Shoubin
;
Yu, Fang
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2015/11/13
The Combined Impact of Total Ionizing Dose Effect and Negative Bias Temperature Stress on Deep Sub-Micron pMOSFETs
其他
2010-01-01
Wang, Jian
;
Wang, Wenhua
;
Huang, Detao
;
Xue, Shoubin
;
Wang, Sihao
;
Liu, Wen
;
Huang, Ru
收藏
  |  
浏览/下载:5/0
  |  
提交时间:2015/11/13
NBTI DEGRADATION
RADIATION
INSTABILITY
Surface morphology of zno buffer layer and its effects on the growth of gan films on si substrates by magnetron sputtering
期刊论文
Applied physics a-materials science & processing, 2009, 卷号: 94, 期号: 2, 页码: 287-291
作者:
Xue, Shoubin
;
Zhang, Xing
;
Huang, Ru
;
Zhuang, Huizhao
收藏
  |  
浏览/下载:17/0
  |  
提交时间:2019/05/12
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace