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Self-calibrating base station for offset measurements 专利
专利号: US20190242742A1, 申请日期: 2019-08-08, 公开日期: 2019-08-08
作者:  PATEL, SAHEJAD;  PARROTT, BRIAN;  ARAB, ABDULLAH;  ABDELLATIF, FADL;  CARRASCO ZANINI, PABLO
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