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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 An explanation for catastrophic failures of GaN-based vertical structure LEDs subjected to thermoelectric stressing 期刊论文 JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, 2015, 卷号: 48 作者:  Liu, Lilin[1];  Yin, Luqiao[2];  Teng, Dongdong[3];  Zhang, Jianhua[4];  Ma, Xincan[5] 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2019/04/30 vertical structure light emitting diode  catastrophic failure  dislocation  electromigration