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浏览/检索结果: 共5条，第1-5条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Advanced microfabrication techniques for the development of millimeter-wave wafer-level waveguide devices 会议论文 作者:  Jones, Thomas R.;  Vahabisani, Nahid;  Ye, Ming;  Daneshmand, Mojgan 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/11/26 Micro electromechanical system (MEMS)  Micro-fabrication techniques  Millimeter-wave components  Millimeter-wave waveguides  RF front end  Wafer level  Waveguide channels  Waveguide device   Sheet resistance evaluation of conductive thin films using microstrip antenna 会议论文 作者:  Ye, Ming;  Wang, Lu;  He, Yongning;  Daneshmand, Mojgan 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2019/11/26 Conductive thin films  Four point probe  Full-wave simulations  Glass substrates  Nano films  Non-contact  Proof of concept  Silver film   In Situ Test of Thickness and Sheet Resistance of Conductive Nanomaterial Using Microwave Cavity 期刊论文 IEEE MICROWAVE AND WIRELESS COMPONENTS LETTERS, 2017, 卷号: 27, 页码: 942-944 作者:  Ye, Ming;  Wang, Lu;  He, Yongning;  Daneshmand, Mojgan 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/11/26 Conductive nanomaterial  thickness and sheet resistance  noncontact  TE011 mode cavity method   Study of multipactor suppression of microwave components using perforated waveguide technology for space applications 期刊论文 PHYSICS OF PLASMAS, 2017, 卷号: 24 作者:  Ye, Ming;  Li, Yun;  He, Yongning;  Daneshmand, Mojgan 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2019/11/26 Positive bias and vacuum chamber wall effect on total electron yield measurement: A re-consideration of the sample current method 期刊论文 JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2017, 卷号: 121 作者:  Ye, Ming;  Wang, Dan;  Li, Yun;  He, Yong-Ning;  Cui, Wan-Zhao 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/11/26