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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 光电耦合器件低频噪声特性与可靠性老化研究 期刊论文 《半导体光电》, 2018, 卷号: 39, 页码: 192-196 作者:  余永涛[1] 王之哲[1] 郭长荣[2];  刘焱[1];  罗宏伟[1];  王小强[1];  罗军[1] 陈勇国[1] 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/04/22 光电耦合器件 低频噪声检测  功率老化  高温老化  可靠性