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专利 [1]
学位论文 [1]
期刊论文 [1]
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2014 [1]
2011 [1]
2005 [1]
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基于加速退化试验的模拟IC寿命评估研究
期刊论文
微电子学, 2014, 卷号: 44, 页码: 523-526
作者:
罗俊
;
王健安
;
郝跃
;
代天君
;
晏开华
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提交时间:2020/01/06
半导体器件
加速退化试验
可靠性
寿命评估
一种新型多相搅拌反应器
专利
申请日期: 2011-11-23, 公开日期: 2011-11-23
作者:
李贵贤
;
李晓明
;
范宗良
;
罗代晏
;
赵军龙
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提交时间:2020/11/11
“TDIPD”开发项目投资决策分析与评价
学位论文
: 西安理工大学, 2005
作者:
罗代晏
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提交时间:2019/12/25
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