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浏览/检索结果: 共9条，第1-9条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Architectural Exploration to Address the Reliability Challenges for ReRAM-Based Buffer in SSD 期刊论文 IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 2019, 卷号: 66, 页码: 226-238 作者:  Zhao, Xiaoqing;  Sun, Hongbin;  Liu, Longjun;  Yang, Yang;  Dai, Liangliang 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2019/11/19 Address mappings  Efficiency improvement  Efficient architecture  Non-volatile memory  Prototypes  Quantitative evaluation  Random bit errors  Solid state drives   Architectural Exploration to Address the Reliability Challenges for ReRAM-Based Buffer in SSD 期刊论文 IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 2019, 卷号: Vol.66 No.1, 页码: 226-238 作者:  Xiaoqing Zhao;  Liangliang Dai;  Nanning Zheng;  Xiulong Wu;  Yang Yang 收藏  |  浏览/下载：20/0  |  提交时间：2019/04/24 Reliability  Nonvolatile  memory  Prototypes  Bit  error  rate  Computer  architecture  Transistors  Sun  ReRAM  solid  state  drive  reliability  endurance  bit  error  rate   Architectural Exploration to Address the Reliability Challenges for ReRAM-Based Buffer in SSD 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2019, 卷号: Vol.66 No.1, 页码: 226-238 作者:  Zheng, Nanning;  Liu, Longjun;  Yang, Yang;  Wu, Xiulong;  Zhao, Xiaoqing 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/04/24 ReRAM  solid  state  drive  reliability  endurance  bit  error  rate   Architectural Exploration to Address the Reliability Challenges for ReRAM-Based Buffer in SSD 期刊论文 IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 2019, 卷号: Vol.66 No.1, 页码: 226-238 作者:  Zhao, Xiaoqing;  Sun, Hongbin;  Liu, Longjun;  Yang, Yang;  Dai, Liangliang 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/17 Address mappings  Efficiency improvement  Efficient architecture  Non-volatile memory  Prototypes  Quantitative evaluation  Random bit errors  Solid state drives   Architectural Exploration to Address the Reliability Challenges for ReRAM-Based Buffer in SSD 期刊论文 IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, 2019, 卷号: Vol.66 No.1, 页码: 226-238 作者:  Xiaoqing Zhao;  Hongbin Sun;  Longjun Liu;  Yang Yang;  Liangliang Dai 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/13 Reliability  Nonvolatile  memory  Prototypes  Bit  error  rate  Computer  architecture  Transistors  Sun  ReRAM  solid  state  drive  reliability  endurance  bit  error  rate   Architectural Exploration to Address the Reliability Challenges for ReRAM-Based Buffer in SSD 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2019, 卷号: Vol.66 No.1, 页码: 226-238 作者:  Zhao, Xiaoqing;  Sun, Hongbin;  Liu, Longjun;  Yang, Yang;  Dai, Liangliang 收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2019/12/17 ReRAM  solid  state  drive  reliability  endurance  bit  error  rate   Architectural Exploration to Address the Reliability Challenges for ReRAM-Based Buffer in SSD. 期刊论文 IEEE Transactions on Circuits & Systems. Part I: Regular Papers., 2019, 卷号: Vol.66 No.1, 页码: 226-238 作者:  Zhao, Xiaoqing;  Sun, Hongbin;  Liu, Longjun;  Yang, Yang;  Dai, Liangliang 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2019/12/17 COMPUTER  storage  devices  *RANDOM  access  memory  *STATISTICAL  reliability   An Experimental Study on the Potential Use of ReRAM as SSD Buffer 会议论文 作者:  Wu, Mengnan;  Yang, Yang;  Dai, Liangliang;  Zhang, Xinxin;  Sun, Hongbin 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/12/02 青藏高原东缘风毛菊属5种10个居群植物种子的萌发特性研究 期刊论文 西北师范大学学报(自然科学版)/Xibei Shifan Daxue Xuebao (Ziran Kexue Ban), 2009, 卷号: 45, 期号: 3, 页码: 87-92 作者:  王一峰;  李岩;  代建霄;  胡玥;  武凌云 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2016/08/20 风毛菊属  种子萌发特性  海拔  青藏高原