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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A Double-Node-Upset Self-Recoverable Latch Design for High Performance and Low Power Application 期刊论文 IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs, 2018, 页码: 1 作者:  Jie Cui;  Xiangsheng Fang;  Jiliang Zhang;  Maoxiang Yi;  Zhengfeng Huang 收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2019/04/22 Latches  Radiation  hardening  Clocks  Feedback  loop  Power  dissipation  Reliability  Electronic  mail  Circuit  reliability  radiation  hardening  soft  error  double-node  upset  single  node  upset.   采用基本块规约的控制流检测性能优化方法 期刊论文 小型微型计算机系统, 2009, 卷号: 30, 期号: 12, 页码: 2378-2382 肖贺; 王永吉; 潘远明; 丁丽萍 收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2010/08/17 软错误  控制流检测  基本块规约  性能优化  softerror  control-flowchecking  basicblockreduce  performaceoptimazation soft error  control-flow checking  basic block reduce  performace optimazation