QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Comparisons of switching characteristics between Ti/Al2O3/Pt and TiN/Al2O3/Pt RRAM devices with various compliance currents 期刊论文 SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2018, 卷号: 33 作者:  Qi, Yanfei;  Zhao, Ce Zhou;  Liu, Chenguang;  Fang, Yuxiao;  He, Jiahuan 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/11/26 compliance current  statistics  top eletrode  RRAM  forming