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浏览/检索结果: 共4条，第1-4条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 research on the total dose irradiation effect of partial-depletion-silicon-on insulator static random access memory 期刊论文 ACTA PHYSICA SINICA, 2012, 卷号: 61, 期号: 10, 页码: - 作者:  Li Ming;  Yu Xue-Feng;  Xue Yao-Guo;  Lu Jian;  Cui Jiang-Wei 收藏  |  浏览/下载：21/0  |  提交时间：2012/11/29 partial-depletion-silicon-on insulator  static random access memory  total-dose effects  power supply current   部分耗尽绝缘层附着硅静态随机存储器总剂量辐射损伤效应的研究 期刊论文 物理学报, 2012, 卷号: 61, 期号: 10, 页码: 323-329 作者:  李明;  余学峰;  薛耀国;  卢健;  崔江维 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/11/29 部分耗尽绝缘层附着硅  静态随机存储器  总剂量效应  功耗电流   SOI CMOS静态随机存储器总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文 硕士, 北京: 中国科学院研究生院, 2011 作者:  李明 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2016/05/24 SOI  SRAM  总剂量辐射效应  评估技术  实验方法   SOI CMOS静态随机存储器总剂量辐射效应及评估技术的研究 学位论文 中国科学院新疆理化技术研究所: 中国科学院研究生院, 2011 作者:  李明 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2016/05/24 Soi  Sram  总剂量辐射效应  评估技术  实验方法