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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 3-D finite element calculation of electric field enhancement for nanostructures fabrication mechanism on silicon surface with AFM tip induced local anodic oxidation 期刊论文 INTEGRATED FERROELECTRICS, 2018, 卷号: 190, 页码: 129-141 作者:  Theogene, Barayavuga;  Cui, Jianlei;  Wang, Xuewen;  Wang, Wenjun;  Mei, Xuesong 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2019/11/26 AFM and surface characterization  Electric field enhancement  nano dot  nanolithography based on tip (NBT)  scanning probe tip