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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 老化实验条件下的IGBT寿命预测模型 (EI收录) 期刊论文 《电工技术学报》, 2016, 卷号: 31, 页码: 173-180 作者:  赖伟[1];  陈民铀[1];  冉立[1];  王学梅[2];  徐盛友[1] 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/04/24 寿命模型  功率循环  WEIBULL分布 Arrhenius广延指数模型  IGBT