QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Study of gamma-ray irradiation influence on TiN/HfO2/Si MOS capacitor by C-V and DLTS 期刊论文 SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, 2018, 卷号: Vol.120, 页码: 313-318 作者:  Li, Yun;  Ma, Yao;  Lin, Wei;  Dong, Peng;  Yang, Zhimei 收藏  |  浏览/下载：17/0  |  提交时间：2019/02/25 TiN/HfO2/Si MOS capacitor  gamma-ray irradiation  Oxide trapped and interface trapped  C-V  DLTS   Study of gamma-ray irradiation influence on TiN/HfO2/Si MOS capacitor by C-V and DLTS 期刊论文 SUPERLATTICES AND MICROSTRUCTURES, 2018, 卷号: Vol.120, 页码: 313-318 作者:  Li, Yun 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/26 TiN/HfO2/Si  MOS  capacitor  gamma-ray  irradiation  Oxide  trapped  and  interface  trapped  C-V  DLTS   Understanding the role of TiN barrier layer on electrical performance of MOS device with ALD-TiN/ALD-TiAlC metal gate stacks 期刊论文 ECS Journal of Solid State Science and Technology, 2016 作者:  Xiang JJ(项金娟);  Li TT(李亭亭);  Wang XL(王晓磊);  Han K(韩锴);  Li JF(李俊峰) 收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2017/05/09