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Nitrogen-concentration modulated interface quality, band alignment and electrical properties of HfTiON/Ge gate stack pretreated by trimethylaluminum precursor
期刊论文
Materials Research Bulletin, 2017, 卷号: Vol.91, 页码: 166-172
作者:
Lv,J. G.
;
Xiao,D. Q.
;
Cheng,C.
;
Sun,Z. Q.
;
Gao,J.
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提交时间:2019/04/22
GE SUBSTRATE
OXIDES
Plasma-Nitrided Ga2O3(Gd2O3) as Interfacial Passivation Layer for InGaAs Metal–Oxide– Semiconductor Capacitor With HfTiON Gate Dielectric
期刊论文
IEEE Transactions on Electron Devices, 2015, 卷号: 62, 期号: 4, 页码: 1235-1240
作者:
Wang, Li-Sheng*
;
Xu, Jing-Ping
;
Liu, Lu
;
Lu, Han-Han
;
Lai, Pui-To
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/12/04
HfTiON gate-dielectric
InGaAs metal-oxide-semiconductor (MOS)
interface-state
nitrided Ga2O3(Gd2O3) (GGON) interlayer
plasma-nitridation
Determination of optical constant and electrical properties of sputtering-derived HfTiON gate dielectrics
期刊论文
Journal of Alloys and Compounds, 2015, 卷号: Vol.646, 页码: 10-15
作者:
Z.Q. Sun
;
H.S. Chen
;
Y.M. Liu
;
J.W. Zhang
;
P.H. Wang
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/04/22
HfTiON
films
Nitrogen
concentration
Electrical
properties
Leakage
current
density
Electrical properties of HfTiON gate-dielectric GaAs metal-oxide- semiconductor capacitor with AlON as interlayer
期刊论文
IEEE Transactions on Electron Devices, 2014, 卷号: 61, 期号: 3, 页码: 742-746
作者:
Wang, Li-Sheng*
;
Liu, Lu
;
Xu, Jing-Ping
;
Zhu, Shu-Yan
;
Huang, Yuan
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/12/04
AlON interlayer
GaAs MOS
HfTiON gate-dielectric
interface-state
Nitrided HfTiON/Ga2O3(Gd2O3) as stacked gate dielectric for GaAs MOS applications
期刊论文
Applied Physics Express, 2014, 卷号: 7, 期号: 6, 页码: 061201-
作者:
Wang, Li-Sheng
;
Xu, Jing-Ping*
;
Liu, Lu
;
Tang, Wing-Man
;
Lai, Pui-To
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/12/04
Improved interfacial and electrical properties of GaAs metal-oxide- semiconductor capacitors with HfTiON as gate dielectric and TaON as passivation interlayer
期刊论文
Applied Physics Letters, 2013, 卷号: 103, 期号: 9
作者:
Wang, L.S.
;
Xu, J.P.
;
Zhu, S.Y.
;
Huang, Y.
;
Lai, P.T.
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/12/04
Composition dependence of interface control and optimization on the performance of an HfTiON gate dielectric metal-oxide-semiconductor capacitor
期刊论文
SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2011, 卷号: 26, 期号: 10
作者:
He, G
;
Sun, ZQ
;
Ma, YQ
;
Wu, MZ
;
Liu, YM
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2012/07/10
Interfacial, optical properties and band offsets of HfTiON thin films with different nitrogen concentrations
期刊论文
journal of applied physics, 2011, 卷号: 110, 期号: 2
作者:
Fang, Q
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浏览/下载:8/0
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提交时间:2012/07/11
Nitrogen dependence of band alignment and electrical properties of HfTiON gate dielectrics metal-oxide-semiconductor capacitor
期刊论文
Applied Physics Letters, 2010, 卷号: Vol.97 No.19, 页码: 192902
作者:
He,G
;
Zhang,LD
;
Liu,M
;
Sun,ZQ
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/04/22
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