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Trapping Effects Induced by Gate OFF-State Stress in AlGaN/GaN High-Electron-Mobility Transistors with Fe-Doped Buffer 期刊论文
JOURNAL OF NANOSCIENCE AND NANOTECHNOLOGY, 2018, 卷号: 18, 期号: 11, 页码: 7479-7483
作者:  Hao, Meilan;  Wang, Quan;  Jiang, Lijuan;  Feng, Chun;  Chen, Changxi
收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2019/12/11
Studies on High-Voltage GaN-on-Si MIS-HEMTs Using LPCVD Si3N4 as Gate Dielectric and Passivation Layer 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 2016, 卷号: 63, 期号: 2
作者:  Zhang, ZL(张志利);  Yu, GH(于国浩);  Zhang, XD(张晓东);  Deng, XG(邓旭光);  Li, SM(李水明)
收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2017/03/11
Normally Off AlGaN/GaN MIS-High-Electron Mobility Transistors Fabricated by Using Low Pressure Chemical Vapor Deposition Si3N4 Gate Dielectric and Standard Fluorine Ion Implantation 期刊论文
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2015, 卷号: 36, 期号: 11, 页码: 4
作者:  Zhang, ZL(张志利);  Fu, K(付凯);  Deng, XG(邓旭光);  Zhang, XD(张晓东);  Fan, YM(范亚明)
收藏  |  浏览/下载：66/0  |  提交时间：2015/12/31
Degradation of the front and back channels in a deep submicron partially depleted SOI NMOSFET under off-state stress 期刊论文
Journal of Semiconductors, 2013, 卷号: 34, 期号: 7, 页码: 074008-1-074008-6
作者:  Zheng, Qiwen;  Yu, Xuefeng;  Cui, Jiangwei;  Guo, Qi;  Cong, Zhongchao
收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2014/11/11
Correlation between MR-DCIV Current and High-Voltage-Stress-Induced Degradation in LDMOSFETs 其他
2013-01-01
He, Yandong; Han, Lin; Zhang, Ganggang; Zhang, Xing
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13
Degradation of Amorphous Silicon Thin Film Transistors Under Negative Gate Bias Stress 期刊论文
ieee电子器件汇刊, 2011
Zhou, Dapeng; Wang, Mingxiang; Zhang, Shengdong
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/12
The degradation of p-MOSFETs under off-state stress 期刊论文
microelectronics journal, 2001
Yang, CY; Wang, Z; Tan, CH; Xu, MZ
收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/10
关态应力下P-MOSFETs的退化 期刊论文
半导体学报, 2001
杨存宇; 王子欧; 谭长华; 许铭真
收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/11/11
Degradation of P-MOSFETs under of-state stress 期刊论文
pan tao ti hsueh paochinese journal of semiconductors, 2001
Yang, C.Y.; Wang, Z.O.; Tan, C.H.; Xu, M.Z.
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/12

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