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Prediction model of lifetime for copper pillar bumps under coupling effects of current and thermal cycling
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, 2016, 卷号: 27, 期号: 2, 页码: 1184-1190
Ma, Huicai
;
Guo, Jingdong
;
Chen, Jianqiang
;
Wu, Di
;
Liu, Zhiquan
;
Zhu, Qingsheng
;
Shang, Jianku
;
Zhang, Li
;
Guo, Hongyan
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浏览/下载:32/0
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提交时间:2016/04/21
Research on thermal-electric coupling effect of the Copper Pillar Bump in the Flip Chip Packaging (CPCI-S收录)
会议
作者:
Fu Zhiwei[1,2]
;
Zhou Bin[1,2]
;
Yao Ruohe[1]
;
Li Xunping[2]
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/04/11
Copper pillar bumps
thermal-electric coupling
Joule heat effcet
current density
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