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片上系统中ADC内建自测试电路及测试方法
专利
专利号: CN201610065972.8, 申请日期: 2018-09-11, 公开日期: 2016-06-15
作者:
陈岚
;
柳臻朝
;
王东
;
冯燕
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2019/03/06
RES complex is associated with intron definition and required for zebrafish early embryogenesis
期刊论文
PLoS Genet, 2018, 卷号: Vol.14 No.7, 页码: e1007473
作者:
Juan Pablo Fernandez
;
Miguel Angel Moreno-Mateos
;
Andre Gohr
;
Liyun Miao
;
Shun Hang Chan
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/26
Solution-based synthesis and processing of Sn- and Bi-doped Cu3SbSe4 nanocrystals, nanomaterials and ring-shaped thermoelectric generators(Article)
期刊论文
Journal of Materials Chemistry A, 2017, 卷号: Vol.5 No.6, 页码: 2592-2602
作者:
Lu, J.
;
Dobrozhan, O.
;
García, G.
;
De Roo, J.
;
Zhang, W.
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/04/24
Solution-based synthesis and processing of Sn- and Bi-doped Cu3SbSe4 nanocrystals, nanomaterials and ring-shaped thermoelectric generators
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS CHEMISTRY A, 2017, 卷号: 5, 页码: 2592-2602
作者:
Liu, Yu[1]
;
Garcia, Gregorio[2]
;
Ortega, Silvia[3]
;
Cadavid, Doris[4]
;
Palacios, Pablo[5]
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/04/24
基于时钟的数字电路可重构BIST设计研究
期刊论文
仪表技术与传感器, 2017, 期号: 1
作者:
夏继军
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/12/05
数字电路
内建自测试
测试矢量
故障模拟仿真
基于时钟的数字电路可重构BIST设计研究
期刊论文
仪表技术与传感器, 2017, 期号: 1
作者:
夏继军
收藏
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浏览/下载:5/0
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提交时间:2019/12/05
数字电路
内建自测试
测试矢量
故障模拟仿真
FPGA芯片的链结构LUT自测试方法研究
期刊论文
2016, 2016
张双悦
;
李硕
;
王红
;
杨士元
;
ZHANG Shuang-yue
;
LI Shuo
;
WANG Hong
;
YANG Shi-yuan
收藏
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浏览/下载:5/0
A Novel Controllable BIST Circuit for embedded SRAM
期刊论文
The Open Electrical & Electronic Engineering Journal, 2016, 卷号: Vol.10, 页码: 1-10
作者:
Zhiting Lin
;
Chunyu Peng
;
Kun Wang
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/04/22
Controllable
BIST
Hardware
overhead
March
algorithm
SRAM
一种采用单双跳变的低功耗确定性BIST方案
期刊论文
哈尔滨工业大学学报, 2016, 卷号: 48, 页码: 96-102
作者:
张建伟
;
丁秋红
;
周彬
;
滕飞
;
马万里
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/12/09
扭环计数器
低功耗
确定性
测试向量生成器
单跳变
基于单双跳变的低功耗确定性BIST及种子压缩方法
专利
申请日期: 2016-01-01, 公开日期: 2016-07-06
作者:
张建伟
;
丁秋红
;
吴国强
;
陈晓明
;
滕飞
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/12/09
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