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上海微系统与信息技术... [1]
内容类型
期刊论文 [1]
发表日期
2012 [1]
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自主新型SiSbTe相变材料与全功能PCRAM实验芯片
期刊论文
中国材料进展, 2012, 期号: 8, 页码: 39
宋志棠
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浏览/下载:22/0
  |  
提交时间:2013/02/22
相变材料:7142
可逆相变:3188
数据保持:2380
纳米结构:2343
信息技术研究:2339
芯片:2187
相变机理:2121
微系统:2108
相变速度:2083
纳米尺度:2030
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