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北京大学 [4]
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新一代半导体器件参数的比例差值谱系统
期刊论文
中国集成电路, 2005
纪志罡
;
靳磊
;
许铭真
;
谭映
;
王国林
;
马进元
收藏
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2015/11/11
半导体器件参数比例差值谱分析系统
其他
2004-01-01
谭长华
;
许铭真
;
杨斌
;
马金源
收藏
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浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2015/11/11
半导体器件
比例差值算符
薄膜材料
质量控制
材料评估
半导体器件参数谱分析系统
其他
2003-01-01
何燕冬
;
杨斌
;
谭映
;
王国林
;
马进元
;
许铭真
收藏
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浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2015/11/11
半导体器件
比例差值特性
器件特征参数
超薄栅MOS结构恒压应力下的直接隧穿弛豫谱
期刊论文
半导体学报, 2001
卫建林
;
毛凌锋
;
许铭真
;
谭长华
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浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2015/11/11
直接隧穿
超薄栅氧化层
陷阱参数
可靠性
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