QQ客服 官方微博 反馈留言

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 用场效应法研究a-Si_xC_(1-x)_H薄膜的隙态密度 期刊论文 科学通报, 1984, 期号: 8, 页码: 511 作者:  王印月;  张仿清;  郭华林;  陈光华 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2015/04/27 场效应管:8755  隙态密度:4484  测量温度:1167  弱反型:1055  H膜:700  a-Si∶H:310  原理:273  测量结果:226  宽带隙:159  国内外:96