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碳化硅VDMOS的静态和动态辐射损伤及其比较
期刊论文
原子能科学技术, 2022, 卷号: 56, 期号: 4, 页码: 767-774
作者:
冯皓楠1,2,3
;
杨圣1,2,3
;
梁晓雯1,2,3
;
张丹1,2,3
;
蒲晓娟1,2,3
收藏
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浏览/下载:13/0
  |  
提交时间:2022/05/06
碳化硅
总剂量效应
静态参数
动态特性
耗尽层
一种天文观测系统中可扩展动态范围的增益自适应变换电路及方法
专利
专利号: CN202010425252.4, 申请日期: 2020-05-19, 公开日期: 2020-09-04
作者:
张健
;
许哲
;
赵燕
;
李爱玲
收藏
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浏览/下载:12/0
  |  
提交时间:2021/11/17
SRAM和FRAM器件单粒子与总剂量的协同效应研究
学位论文
中国科学院大学: 中国科学院大学(中国科学院近代物理研究所), 2019
作者:
姬庆刚
收藏
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浏览/下载:42/0
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提交时间:2019/11/21
质子转移反应飞行时间质谱的建立与性能研究
期刊论文
大气与环境光学学报, 2019, 卷号: 014
作者:
梁渠
;
张亚婷
;
张强领
;
邹雪
;
陈美玲
收藏
  |  
浏览/下载:9/0
  |  
提交时间:2020/11/23
质子转移反应飞行时间质谱
阈值电压
分辨率
挥发性有机物
双栅结构对非晶铟镓锌氧薄膜晶体管电学性能的改进
其他
2014-01-01
贺鑫
;
邓伟
;
肖祥
;
王龙彦
;
张乐陶
;
张盛东
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
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提交时间:2017/12/03
非晶铟镓锌氧
薄膜晶体管
双栅
短沟效应
动态阈值电压
不同规模SRAM辐射损伤效应的研究
期刊论文
微电子学, 2013, 卷号: 43, 期号: 3, 页码: 426-430
作者:
卢健
;
余学峰
;
郑齐文
;
崔江维
;
胥佳灵
收藏
  |  
浏览/下载:8/0
  |  
提交时间:2013/11/06
静态随机存储器
总剂量效应
阈值电压
不同规模SRAM辐射损伤效应的研究
期刊论文
微电子学, 2013, 卷号: 43, 期号: 3, 页码: 426-430
作者:
卢健
;
余学峰
;
郑齐文
;
崔江维
;
胥佳灵
收藏
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浏览/下载:0/0
  |  
提交时间:2013/11/06
静态随机存储器
总剂量效应
阈值电压
部分耗尽绝缘层附着硅静态随机存储器总剂量辐射损伤效应的研究
期刊论文
物理学报, 2012, 卷号: 61, 期号: 10, 页码: 323-329
作者:
李明
;
余学峰
;
薛耀国
;
卢健
;
崔江维
收藏
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2012/11/29
部分耗尽绝缘层附着硅
静态随机存储器
总剂量效应
功耗电流
面向Cache失效容忍的多核处理器DVFS方法
学位论文
北京: 中国科学院研究生院, 2011
作者:
赵利
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浏览/下载:13/0
  |  
提交时间:2011/06/09
通量能耗
Dvfs
阈值电压偏差
Cache失效
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