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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 学科主题：Physics, Applied     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Stress current calculation of stacked dielectrics in time dependent dielectric breakdown 期刊论文 JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2003, 卷号: 94, 期号: 6, 页码: 4032-4035 Yang, WW; Cheng, XH; Xing, YM; Li, WJ; Yu, YH 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2012/03/24 TUNNELING CURRENTS  OXIDE THICKNESS  LEAKAGE CURRENT  MOS CAPACITORS  MODEL  INTERFACES  SIO2