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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 专题：暨南大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Trapped-Charge-Effect-Based Above-Threshold Current Expressions for Amorphous Silicon TFTs Consistent With Pao-Sah Model 期刊论文 2014, 卷号: 61, 期号: 11, 页码: 3744 作者:  He, Hongyu[1,2];  He, Jin[3];  Deng, Wanling[4];  Wang, Hao[5];  Liu, Yuan[6] 收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2019/12/09 A Compact Model for Undoped Symmetric Double-Gate Polysilicon Thin-Film Transistors 期刊论文 2010, 卷号: 57, 期号: [db:dc_citation_issue], 页码: 2607 作者:  Huang, Junkai[1,2];  Deng, Wanling[2];  Zheng, Xueren[1];  Jiang, Xiaozhou[2] 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/03 Modeling of kink effect in polycrystalline silicon thin-film transistors 期刊论文 2009, 卷号: 53, 期号: 6, 页码: 669 作者:  Deng, Wanling[1];  Zheng, Xueren[2] 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/06 Simple leakage Current and 1/f Noise Expressions for Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors 会议论文 Univ Hong Kong, Hong Kong, PEOPLES R CHINA, AUG 03-05, 2016 作者:  He, Hongyu[1,2];  Deng, Wanling[3];  Liu, Yuan[4];  Lin, Xinnan[2];  Zheng, Xueren[5] 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/10 Characterization of trap states distribution in poly-Si TFTs using OEMS 会议论文 Chengdu, China, June 19, 2010 - June 21, 2010 作者:  Huang, Junkai[1,2];  Jiang, Xiaozhou[2];  Deng, Wanling[2];  Zheng, Xueren[1];  Liu, Tao[2] 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/12/10 Simple leakage current and 1/f noise expressions for polycrystalline silicon thin-film transistors 会议论文 Hong Kong, Hong kong, August 3, 2016 - August 5, 2016 作者:  He, Hongyu[1,2];  Deng, Wanling[3];  Liu, Yuan[4];  Lin, Xinnan[2];  Zheng, Xueren[5] 收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2019/12/13