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安徽大学 [5]
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Physical mechanism of resistance switching in the co-doped RRAM
期刊论文
Journal of Semiconductors, 2017, 卷号: Vol.38 No.1, 页码: 014008
作者:
Chen,Junning
;
Wang,Feifei
;
Jiang,Xianwei
;
Lu,Shibin
;
Dai,Yuehua
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浏览/下载:11/0
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提交时间:2019/04/22
ELECTROLYTE-BASED RERAM
CONDUCTIVE FILAMENTS
TI/HFO2 INTERFACE
MEMORY
OXIDE
PERFORMANCE
DEVICES
Research on c-HfO2 (001)/alpha-Al2O3 (1-102) interface in CTM devices based on first principle theory
期刊论文
AIP ADVANCES, 2017, 卷号: Vol.7 No.12
作者:
Ma, Chengzhi
;
Wang, Feifei
;
Jiang, Xianwei
;
Lu, Wenjuan
;
Zhang, Xu
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/04/24
Physical mechanism of resistance switching in the co-doped RRAM
期刊论文
Journal of Semiconductors, 2017, 卷号: 第38卷, 页码: 104-109
作者:
Shibin Lu
;
Junning Chen
;
Yuehua Dai
;
Feifei Wang
;
Xianwei Jiang
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浏览/下载:4/0
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提交时间:2019/04/17
RRAM
resistive
switching
co-doped
conductive
path
physical
mechanism
Characterization of oxygen impurity in silicon nitride storage layer: A first-principles investigation
期刊论文
Physica Status Solidi, 2014, 卷号: Vol.251 No.6, 页码: 1212-1218
作者:
Qi Liu
;
Hongpeng Zhao
;
Huifang Xu
;
Jing Luo
;
Yuehua Dai
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浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2019/04/22
charge
trapping
memory
first-principles
oxygen
silicon
nitride
A high PSRR, low temperature coefficient bandgap reference circuit for step-down DC-DC converters
期刊论文
ECS Transactions, 2012, 卷号: Vol.44 No.1, 页码: 159-164
作者:
Chen,Junning
;
Jiang,Xianwei
;
Dai,Yuehua
;
Yang,Jin
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提交时间:2019/04/22
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