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科研机构
华南理工大学 [15]
内容类型
会议论文 [11]
会议 [3]
期刊论文 [1]
发表日期
2014 [1]
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Trapped-charge-effect-based above-threshold current expressions for amorphous silicon tfts consistent with pao-sah model (EI收录SCI收录)
期刊论文
IEEE Transactions on Electron Devices, 2014, 卷号: 61, 页码: 3744-3750
作者:
He, Hongyu[1,2]
;
He, Jin[3]
;
Deng, Wanling[4]
;
Wang, Hao[5]
;
Liu, Yuan[6]
收藏
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浏览/下载:7/0
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提交时间:2019/04/25
Amorphous films
Silicon
Thin film transistors
Threshold voltage
A physics-based charge sheet model of polysilicon thin film transistors for circuit simulation (EI收录)
会议论文
AD'07 - Proceedings of Asia Display 2007, Shanghai, China, March 12, 2007 - March 16, 2007
作者:
Deng, Wanling[1]
;
Zheng, Xueren[1]
;
Chen, Rongsheng[1]
;
Wu, Weijing[1]
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/04/17
Circuit simulation
Grain boundaries
Polysilicon
SPICE
Surface potential
Surface properties
Surface roughness
Thermal resistance calculation method of high-power LEDs (EI收录)
会议论文
AD'07 - Proceedings of Asia Display 2007, Shanghai, China, March 12, 2007 - March 16, 2007
作者:
Ma, Zhiling[1]
;
Zheng, Xueren[1]
收藏
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/04/17
Light emission
Numerical methods
A physics-based charge sheet model of polysilicon thin film transistors for circuit simulation (CPCI-S收录)
会议论文
AD'07: Proceedings of Asia Display 2007, Vols 1 and 2
作者:
Deng, Wanling
;
Zheng, Xueren
;
Chen, Rongsheng
;
Wu, Weijing
收藏
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提交时间:2019/04/17
polysilicon thin-film transistors
surface potential
charge sheet model
Thermal resistance calculation method of high-power LEDs (CPCI-S收录)
会议论文
AD'07: PROCEEDINGS OF ASIA DISPLAY 2007, VOLS 1 AND 2
作者:
Ma, Zhiling
;
Zheng, Xueren
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/04/17
thermal resistance
border effect
spreading angle
light-emitting diodes (LEDs)
Simple leakage Current and 1/f Noise Expressions for Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors (CPCI-S收录)
会议
作者:
He, Hongyu[1,2]
;
Deng, Wanling[3]
;
Liu, Yuan[4]
;
Lin, Xinnan[2]
;
Zheng, Xueren[5]
收藏
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/04/11
Simple leakage current and 1/f noise expressions for polycrystalline silicon thin-film transistors (EI收录)
会议
Hong Kong, Hong kong,
作者:
He, Hongyu[1,2]
;
Deng, Wanling[3]
;
Liu, Yuan[4]
;
Lin, Xinnan[2]
;
Zheng, Xueren[5]
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2019/04/11
Drain current
Electron devices
Leakage currents
Polycrystalline materials
Polysilicon
Power spectral density
Solid state devices
Spectral density
Thin film transistors
Thin films
Analysis of 1/f Noise for Polycrystalline Silicon TFTs Considering Mobility Power-Law Parameter (CPCI-S收录)
会议
作者:
He, Hongyu[1,2]
;
Liu, Yuan[3]
;
Wang, Hao[4]
;
Lin, Xinnan[2]
;
Zheng, Xueren[5]
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2019/04/11
A simple leakage current model for polycrystalline silicon nanowire thin-film transistors (EI收录)
会议论文
2013 IEEE International Conference of Electron Devices and Solid-State Circuits, EDSSC 2013, Hong Kong, Hong kong, June 3, 2013 - June 5, 2013
作者:
He, Hongyu[1,2]
;
He, Jin[1,2]
;
Deng, Wanling[1,2]
;
Wang, Hao[1,2]
;
Hu, Yue[1,2]
收藏
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浏览/下载:6/0
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提交时间:2019/04/15
Electron devices
Electron emission
Nanowires
Polysilicon
Semiconducting organic compounds
Thin film transistors
A Simple Leakage Current Model for Polycrystalline Silicon Nanowire Thin-Film Transistors (CPCI-S收录)
会议论文
2013 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE OF ELECTRON DEVICES AND SOLID-STATE CIRCUITS (EDSSC)
作者:
He, Hongyu[1,2]
;
He, Jin[1,2]
;
Deng, Wanling[1,2]
;
Wang, Hao[1,2]
;
Hu, Yue[1,2]
收藏
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浏览/下载:1/0
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提交时间:2019/04/15
Thin-film transistor (TFT)
polycrystalline silicon (poly-Si)
nanowire
leakage current
thermal field emission
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