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北京大学 [5]
内容类型
其他 [5]
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2005 [1]
2004 [3]
1993 [1]
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Scalability and reliability of TaN/HfN/HfO(2) gate stacks fabricated by a high temperature process
其他
2005-01-01
Kang, JF
;
Yu, HY
;
Ren, C
;
Yang, H
;
Sa, N
;
Liu, XY
;
Han, RQ
;
Li, MF
;
Chan, DSH
;
Kwong, DL
收藏
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浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2015/11/13
Scaling properties of GOI MOSFETs in naon scale by full band Monte Carlo simulation
其他
2004-01-01
Liu, XY
;
Du, G
;
Xia, ZL
;
Kang, JF
;
Wang, Y
;
Han, RQ
;
Yu, HY
;
Li, MF
;
Kwong, DL
收藏
  |  
浏览/下载:1/0
  |  
提交时间:2015/11/13
Monte Carlo
GOI
scaling
quantum effect
TRANSPORT
SEMICONDUCTORS
DEVICES
Charactcristics of sub-1 nm CVID HfO2 gate dielectrics with HfN electrodcs for advanccd CMOS applications
其他
2004-01-01
Kang, JF
;
Yu, HY
;
Ren, C
;
Wang, XP
;
Li, MF
;
Chan, DSH
;
Liu, XY
;
Han, RQ
;
Wang, YY
;
Kwong, DL
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2015/11/13
TDDB characteristics of ultra-thin HfN/HfO2 gate stack
其他
2004-01-01
Yang, H
;
Sa, N
;
Tang, L
;
Liu, XY
;
Kang, JF
;
Han, RQ
;
Yu, HY
;
Ren, C
;
Li, MF
;
Chan, DSH
;
Kwong, DL
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2015/11/13
HUBER OPTIMIZATION OF CIRCUITS - A ROBUST APPROACH
其他
1993-01-01
BANDLER, JW
;
CHEN, SH
;
BIERNACKI, RM
;
GAO, L
;
MADSEN, K
;
YU, HY
收藏
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浏览/下载:2/0
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提交时间:2015/11/12
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