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浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Scalability and reliability of TaN/HfN/HfO(2) gate stacks fabricated by a high temperature process 其他 2005-01-01 Kang, JF; Yu, HY; Ren, C; Yang, H; Sa, N; Liu, XY; Han, RQ; Li, MF; Chan, DSH; Kwong, DL 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 TDDB characteristics of ultra-thin HfN/HfO2 gate stack 其他 2004-01-01 Yang, H; Sa, N; Tang, L; Liu, XY; Kang, JF; Han, RQ; Yu, HY; Ren, C; Li, MF; Chan, DSH; Kwong, DL 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13