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北京大学 [4]
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其他 [4]
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2007 [1]
2005 [1]
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Dynamic NBTI characteristics of p-MOSFET with N-plasma SiON gate dielectric
其他
2007-01-01
Yan, B.G.
;
Kang, J.F.
;
Sa, N.
;
Liu, X.Y.
;
Du, G.
;
Han, R.Q.
;
Liao, C.C.
;
Gan, Z.H.
;
Liao, M.
;
Wang, J.P.
;
Wong, W.
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/10
Scalability and reliability of TaN/HfN/HfO(2) gate stacks fabricated by a high temperature process
其他
2005-01-01
Kang, JF
;
Yu, HY
;
Ren, C
;
Yang, H
;
Sa, N
;
Liu, XY
;
Han, RQ
;
Li, MF
;
Chan, DSH
;
Kwong, DL
收藏
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浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2015/11/13
TDDB characteristics of ultra-thin HfN/HfO2 gate stack
其他
2004-01-01
Yang, H
;
Sa, N
;
Tang, L
;
Liu, XY
;
Kang, JF
;
Han, RQ
;
Yu, HY
;
Ren, C
;
Li, MF
;
Chan, DSH
;
Kwong, DL
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2015/11/13
TDDB characteristics of ultra-thin HfN/HfO2 gate stack
其他
2004-01-01
Yang, Hong
;
Sa, Ning
;
Tang, Liang
;
Liu, Xiaoyan
;
Kang, Jinfeng
;
Han, Ruqi
;
Yu, H.Y.
;
Ren, C.
;
Li, M.-F.
;
Chan, D.S.H.
;
Kwong, D.-L.
收藏
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浏览/下载:3/0
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提交时间:2015/11/13
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