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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A novel experimental method to measure interface trap density in gate-drain overlap region 其他 2003-01-01 Liu, DM; Wang, JY; Yang, GY; Xu, MZ; Tan, CH 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2015/11/13 hot carrier  reliability  band trap band  interface trap  trap induced leakage (TIDL)  thermal-field emission  gate-to-drain overlap region  MOSFETS  DEGRADATION  LEAKAGE