|
已选(0)清除
条数/页： 排序方式：
|
| Application of proportional difference operator method on retention characteristics study of flash memory 其他
2010-01-01
Xie, Bing; Xu, Mingzhen; Tan, Changhua
  收藏 | 浏览/下载：2/0 | 提交时间：2015/11/13 |
| Normalized differential conductance spectroscopy to study the tunneling properties of post soft breakdown SiO2 其他
2010-01-01
Xu, Mingzhen; Tan, Changhua
收藏 | 浏览/下载：3/0 | 提交时间：2015/11/13 |
| Characteristics of As-grown hole trapping in silicon oxynitride p-MOSFETs subjected to negative bias temperature stress 其他
2008-01-01
Wang, Yangang; Zhang, J.F.; Chang, M.H.; Xu, Mingzhen; Tan, Changhua
收藏 | 浏览/下载：3/0 | 提交时间：2015/11/12 |
| Defect Current and Defect Band Conduction of Ultrathin Oxides after Degradation and Breakdown 其他
2008-01-01
Mingzhen Xu; Changhua Tan
收藏 | 浏览/下载：2/0 | 提交时间：2017/12/03
|
| Defect Current and Defect Band Conduction of Ultrathin Oxides after Degradation and Breakdown 其他
2008-01-01
Xu, Mingzhen; Tan, Changhua
收藏 | 浏览/下载：3/0 | 提交时间：2015/11/13
|
| Ultrathin oxynitride p-MOSFET recovery characteristics under NBTI stress 其他
2007-01-01
Yandong, He; Mingzhen, Xu; Changhua, Tan
收藏 | 浏览/下载：2/0 | 提交时间：2015/11/10 |
| Application of proportional difference operator method on endurance characteristics study of flash memory 其他
2007-01-01
Xie, Bing; He, Yandong; Xu, Mingzhen; Tan, Changhua
收藏 | 浏览/下载：2/0 | 提交时间：2015/11/12 |
| An investigation on the permanent component of NBTI degradation in a 90nm CMOS technology 其他
2007-01-01
Lei, Jin; Mingzhen, Xu; Changhua, Tan
收藏 | 浏览/下载：2/0 | 提交时间：2015/11/12 |
| Drain disturb related to negative VB in NOR flash 其他
2007-01-01
Kai, Shi; Mingzhen, Xu; Changhua, Tan
收藏 | 浏览/下载：5/0 | 提交时间：2015/11/12 |
| Study on near-flatband-voltage SILC in ultra-thin plasma nitrided gate oxides 其他
2004-01-01
He, Yandong; Xu, Mingzhen; Tan, Changhua
收藏 | 浏览/下载：3/0 | 提交时间：2015/11/13 |
