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浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 内容类型：其他    专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A fast and low computation consumption model for system-level thermal management in 3D IC 其他 2016-01-01 Pi, Yudan; Xu, Wenhua; Jin, Yufeng; Wang, Wei; Wang, Ningyu; Zhang, Jiaxi; Luo, Guojie; Miao, Min 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2017/12/03 thermal management  3D IC  low computation   The Combined Impact of Total Ionizing Dose Effect and Negative Bias Temperature Stress on Deep Sub-Micron pMOSFETs 其他 2010-01-01 Wang, Jian; Wang, Wenhua; Huang, Detao; Xue, Shoubin; Wang, Sihao; Liu, Wen; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/13 NBTI DEGRADATION  RADIATION  INSTABILITY   Separation of blood on a chip utilizing spiral micorchannel with fence and cofferdam as filtration structures 其他 2010-01-01 Geng, Zhaoxin; Xu, Zhaoqi; Wang, Wei; Su, Wenhua; Li, Zhihong 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2015/11/13 Enhanced light-extraction in GaN light-emitting diode with binary blazed grating reflector 其他 2009-01-01 Wenhua, Wu; Huaming, Wu; Tingwei, Wu; Yi, Wang; Zhiping, Zhoub 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/17 Investigations on Proton-Irradiation-Induced Spacer Damage in Deep-Submicron MOSFETs 其他 2008-01-01 Xue, Shoubin; Wang, Pengfei; Huang, Ru; Wu, Dake; Pei, Yunpeng; Wang, Wenhua; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2015/11/10 THIN GATE OXIDES  HEAVY-ION IRRADIATION  INDUCED LEAKAGE CURRENT  RELIABILITY DEGRADATION  CMOS TRANSISTORS  DEPENDENCE  BREAKDOWN   Investigations on Proton-Irradiation-Induced Spacer Damage in Deep-Submicron MOSFETs 其他 2008-01-01 Shoubin Xue; Pengfei Wang; Ru Huang; Dake Wu; Yunpeng Pei; Wenhua Wang; Xing Zhang 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 drain  irradiation  capture  defects  saturation  lager  proton  hardness  degraded  isolation  drain  irradiation  capture  defects  saturation  lager  proton  hardness  degraded  isolation   A new self-aligned BOI (Body-on-insulator) finfet fabricated on bulk SI wafers 其他 2008-01-01 Wang, Runsheng; Xu, Xiaoyan; Zhuge, Jing; Chen, Gang; Wang, Wenhua; Zhang, Xing; Wang, Yangyuan; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13 A new test data compression/decompression scheme to reduce SOC test time 其他 2005-01-01 Long, Jieyi; Feng, Jianhua; Zhu, Lida; Xu, Wenhua; Wang, Xinan 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/15 SOC  test compression  don't cared bits specification  test data partition  decompression overhead