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浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助 限定条件 内容类型：会议论文     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 A comparison of heavy ion induced single event upset susceptibility in unhardened 6T/SRAM and hardened ADE/SRAM 会议论文 作者:  Yan, Weiwei;  Wang, Bin;  Zeng, Chuanbin;  Geng, Chao;  Liu, Tianqi 收藏  |  浏览/下载：40/0  |  提交时间：2018/08/20 Heavy ion irradiation  Single event upset  Active delay element  SRAM cell  Radiation hardened  Silicon-on-insulator   Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices 会议论文 作者:  Xi, Kai;  Luo, Jie;  Liu, Jie;  Sun, Youmei;  Hou, Mingdong 收藏  |  浏览/下载：16/0  |  提交时间：2018/08/20 Swift heavy ions  Ion flux  Single event effect  Memory device   Influence of heavy ion flux on single event effect testing in memory devices 会议论文 作者:  Xi, Kai;  Sun, Youmei;  Luo, Jie;  Liu, Jie;  Liu, Tianqi 收藏  |  浏览/下载：18/0  |  提交时间：2018/08/20 Swift heavy ions  Ion flux  Single event effect  Memory device   Application of SEU imaging for analysis of device architecture using a 25 MeV/u Kr-86 ion microbeam at HIRFL 会议论文 作者:  Su, Hong;  Liu, Tianqi;  Yang, Zhenlei;  Guo, Jinlong;  Du, Guanghua 收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2018/08/20 Heavy-ion microbeam  High-energy  Single event upset  FPGA  Imaging   All-optical signal processing technique for secure optical communication 会议论文 applied optics and photonics, china: optical fiber sensors and applications, aopc 2015, beijing, china, 2015-05-05 作者:  Qian, Feng-Chen;  Su, Bing;  Ye, Ya-Lin;  Zhang, Qian;  Lin, Shao-Feng 收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2016/01/14 Image Position Analysis of Motion Errors for Missile-borne SAR Based on Diving Model 会议论文 2013 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON IMAGING SYSTEMS AND TECHNIQUES (IST 2013), 2013-01-01 作者:  Bing, Sun;  Ye, Wang;  Jie, Chen;  Yan, Wang;  Bing, Li 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2020/01/06 SAR  motion error  position  diving model  geometric correction