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Radiation and Annealing Characteristics of Interface traps in SOI NMOSFETs by the Direct-Current Current-Voltage Technique 会议论文
作者:  Li YY(李洋洋);  Li XJ(李晓静);  Li B(李博);  Gao LC(高林春);  Yan WW(闫薇薇)
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蓝宝石(0001)衬底上p-3C-SiC欧姆接触的研究 会议论文
2002年材料科学与工程新进展(下)——2002年中国材料研讨会
作者:  孙艳玲;  孙国胜;  刘肃;  王雷;  赵万顺
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