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The dependence of single event effect on heavy ion angular irradiation by Geant4 simulation 会议论文
作者:  Li B(李博);  Guo S(郭硕);  Hao L(郝乐);  Bi JS(毕津顺);  Luo JJ(罗家俊)
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CMOS 电路中的单粒子瞬变效应综述 会议论文
作者:  郝乐;  李博;  毕津顺;  宿晓慧;  罗家俊
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