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科研机构
新疆理化技术研究所 [6]
内容类型
期刊论文 [6]
发表日期
2011 [5]
2009 [1]
学科主题
Physics [6]
Engineerin... [1]
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学科主题:Physics
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RELATIONSHIP BETWEEN SILICON-ON-INSULATOR KINK AND RADIATION EFFECTS
期刊论文
INTERNATIONAL JOURNAL OF MODERN PHYSICS E-NUCLEAR PHYSICS, 2011, 卷号: 20, 期号: 6, 页码: 1409-1417
作者:
Cui Jiangwei
;
Yu Xuefeng
;
Ren Diyuan
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浏览/下载:14/0
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提交时间:2012/11/29
SOI
kink
radiation
Theorical model of enhanced low dose rate sensitivity observed in p-type metal-oxide-semiconductor field-effect transistor
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2011, 卷号: 60, 期号: 6
作者:
Gao Bo
;
Yu Xue-Feng
;
Ren Di-Yuan
;
Cui Jiang-Wei
;
Lan Bo
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2012/11/29
p-type metal-oxide-semiconductor field-effect transistor
Co-60 gamma-ray
total-dose irradiation damage effects
enhanced low dose rate sensitivity
PDSOI CMOS SRAM总剂量辐射及退火效应的研究
期刊论文
核技术, 2011, 卷号: 34, 期号: 6, 页码: 452-456
作者:
李明
;
余学峰
;
卢健
;
高博
;
崔江维
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浏览/下载:19/0
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提交时间:2012/11/29
PDSOI
SRAM
总剂量效应
功耗电流
退火效应
Degradation and dose rate effects of bipolar linear regulator on ionizing radiation
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2011, 卷号: 60, 期号: 9, 页码: -
作者:
Wang Yi-Yuan
;
Lu Wu
;
Ren Di-Yuan
;
Guo Qi
;
Yu Xue-Feng
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浏览/下载:17/0
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提交时间:2012/11/29
bipolar linear regulators
total ionizing dose
dose rate effect
radiation damage
Research on the total-dose irradiation damage effect for static random access memory-based field programmable gate array
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2011, 卷号: 60, 期号: 3
作者:
Gao Bo
;
Yu Xue-Feng
;
Ren Di-Yuan
;
Li Yu-Dong
;
Cui Jiang-Wei
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浏览/下载:16/0
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提交时间:2012/11/29
(60)Co gamma
total-dose irradiation damage effects
SRAM-based FPGA
CMOS cell
Characteristics of high- and low-dose-rate damage for domestic npn transistors of various emitter areas
期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA, 2009, 卷号: 58, 期号: 8, 页码: 5572-5577
作者:
Zheng Yu-Zhan
;
Lu Wu
;
Ren Di-Yuan
;
Wang Yi-Yuan
;
Guo Qi
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浏览/下载:18/0
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提交时间:2012/11/29
emitter area
domestic npn transistors
dose rate
radiation damage
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