×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
上海微系统与信息技术... [2]
内容类型
期刊论文 [2]
发表日期
2004 [2]
学科主题
Materials ... [2]
Applied [1]
Ceramics; ... [1]
Multidisci... [1]
Multidisci... [1]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共2条,第1-2条
帮助
限定条件
学科主题:Materials Science
专题:上海微系统与信息技术研究所
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Analysis of IBAD silicon oxynitride film for anti-reflection coating application
期刊论文
JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS, 2004, 卷号: 333, 期号: 3, 页码: 296-300
Wang,YJ
;
Cheng,XL
;
Lin,ZL
;
Zhang,CS
;
Xiao,HB
;
Zhang,F
;
Zou,SC
收藏
  |  
浏览/下载:12/0
  |  
提交时间:2012/03/24
RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY
REFRACTIVE-INDEX
ON-INSULATOR
THIN-FILMS
WAVE-GUIDE
AUGER-SPECTROSCOPY
INTEGRATED-OPTICS
NITRIDE FILMS
ELLIPSOMETRY
LAYERS
A study of silicon oxynitride film prepared by ion beam assisted deposition
期刊论文
MATERIALS LETTERS, 2004, 卷号: 58, 期号: 17-18, 页码: 2261-2265
Wang,YJ
;
Cheng,XL
;
Lin,ZL
;
Zhang,CS
;
Xiao,HB
;
Zhang,F
;
Zou,SC
收藏
  |  
浏览/下载:12/0
  |  
提交时间:2012/03/24
RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY
WAVE-GUIDE
REFRACTIVE-INDEX
ON-INSULATOR
THIN-FILMS
AUGER-SPECTROSCOPY
INTEGRATED-OPTICS
NITRIDE FILMS
ELLIPSOMETRY
LAYERS
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace