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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2020    内容类型：会议论文     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Using Scale Information to Improve SIFT-Based Electron Microscope Image Registration Method 会议论文 中国浙江省杭州市, 2019-9 作者:  Chen BH(陈波昊);  Chang S(常胜);  Chen X(陈曦);  Han H(韩华) 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2022/06/14 SIFT  Image Registration  RANSAC  Electron Microscope