×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
CORC
首页
科研机构
检索
知识图谱
申请加入
托管服务
登录
注册
在结果中检索
科研机构
武汉大学 [4]
内容类型
期刊论文 [4]
发表日期
2019 [4]
×
知识图谱
CORC
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共4条,第1-4条
帮助
限定条件
发表日期:2019
专题:武汉大学
第一署名单位
第一作者单位
通讯作者单位
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
Defect Self-Compensation for High-Mobility Bilayer InGaZnO/In2O3 Thin-Film Transistor
期刊论文
ADVANCED ELECTRONIC MATERIALS, 2019, 卷号: 5, 期号: 6
作者:
He, Jiawei
;
Li, Guoli
;
Lv, Yawei
;
Wang, Chunlan
;
Liu, Chuansheng
收藏
  |  
浏览/下载:28/0
  |  
提交时间:2019/12/05
amorphous oxide semiconductor
bilayer stack
defect self-compensation
high mobility
thin-film transistor
Exploring and suppressing the kink effect of black phosphorus field-effect transistors operating in the saturation regime
期刊论文
NANOSCALE, 2019, 卷号: 11, 期号: 21
作者:
Xia, Ying
;
Li, Guoli
;
Jiang, Bei
;
Yang, Zhenyu
;
Liu, Xingqiang
收藏
  |  
浏览/下载:15/0
  |  
提交时间:2019/12/05
Exploring and suppressing the kink effect of black phosphorus field-effect transistors operating in the saturation regime
期刊论文
Nanoscale, 2019, 卷号: 11, 期号: 21
作者:
Xia, Ying
;
Li, Guoli
;
Jiang, Bei
;
Yang, Zhenyu
;
Liu, Xingqiang
收藏
  |  
浏览/下载:4/0
  |  
提交时间:2019/12/05
Defect Self-Compensation for High-Mobility Bilayer InGaZnO/In2O3 Thin-Film Transistor
期刊论文
Advanced Electronic Materials, 2019, 卷号: 5, 期号: 6
作者:
He, Jiawei
;
Li, Guoli
;
Lv, Yawei
;
Wang, Chunlan
;
Liu, Chuansheng
收藏
  |  
浏览/下载:14/0
  |  
提交时间:2019/12/05
©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by
CSpace