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科研机构
上海光学精密机械研究... [6]
内容类型
会议论文 [6]
发表日期
2017 [6]
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发表日期:2017
专题:上海光学精密机械研究所
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Study of a grating interferometer with high optical subdivision technique
会议论文
作者:
Wei, Chunlong
;
Li, Chao
;
Wang, Jin
;
Yu, Junjie
;
Jia, Wei
收藏
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浏览/下载:37/0
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提交时间:2017/12/25
Interference pattern period measurement at picometer level
会议论文
作者:
Jia, Wei
;
Wei, Chunlong
;
Xiang, Xiansong
;
Lu, Yancong
;
Li, Minkang
收藏
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浏览/下载:31/0
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提交时间:2017/12/25
Image grating metrology using phase-stepping interferometry in scanning beam interference lithography
会议论文
作者:
Xiang, XianSong
;
Li, Minkang
;
Wei, Chunlong
;
Jia, Wei
;
Lu, Yancong
收藏
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浏览/下载:38/0
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提交时间:2017/12/25
Interference pattern period measurement at picometer level
会议论文
作者:
Lu, Yancong
;
Wei, Chunlong
;
Xiang, Xiansong
;
Jia, Wei
;
Zhou, Changhe
收藏
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浏览/下载:23/0
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提交时间:2017/12/25
Image grating metrology using phase-stepping interferometry in scanning beam interference lithography
会议论文
作者:
Li, Minkang
;
Xiang, Changcheng
;
Lu, Yancong
;
Jia, Wei
;
Wei, Chunlong
收藏
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浏览/下载:27/0
  |  
提交时间:2017/12/25
Study of a grating interferometer with high optical subdivision technique
会议论文
作者:
Zhou, Changhe
;
Lu, Yancong
;
Li, Shubin
;
Wei, Chunlong
;
Li, Minkang
收藏
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浏览/下载:34/0
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提交时间:2017/12/25
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