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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2017    专题：微电子研究所    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Hole mobility degradation by remote Coulomb scattering and charge distribution in Al2O3/GeOx gate stacks in bulk Ge pMOSFET with GeOx grown by ozone oxidation 期刊论文 JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, 2017 作者:  Ye TC(叶甜春);  Zhou LX(周丽星);  Wang XL(王晓磊);  Ma XL(马雪丽);  Xiang JJ(项金娟) 收藏  |  浏览/下载：7/0  |  提交时间：2018/07/09