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浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助 限定条件 发表日期：2017    专题：北京大学    第一署名单位    第一作者单位    通讯作者单位     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 The Impact of Self-Heating on HCI Reliability in High-Performance Digital Circuits 期刊论文 IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, 2017 Jiang, Hai; Shin, SangHoon; Liu, Xiaoyan; Zhang, Xing; Alam, Muhammad Ashraful 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2017/12/03 Self-heating  digital circuits  hot carrier injection  reliability  lifetime  MOSFETS