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Study Of RBSOA Reliability Of Nanoscale Partially Narrow Mesa IGBT (PNM-IGBT) 会议论文
作者:  Lu J(陆江);  Liu HN(刘海南);  Luo JJ(罗家俊);  Wang LX(王立新);  Zhang GH(张国欢)
收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2017/05/19
A Simulation Model for the PN Junction Based on SOI 会议论文
作者:  Luo JJ(罗家俊);  Bu JH(卜建辉);  Li Y(李莹);  Han ZS(韩郑生)
收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2017/05/19
Analysis and optimization of Tunneling-FET based on SOI 会议论文
作者:  Li Y(李莹);  Han ZS(韩郑生);  Luo JJ(罗家俊);  Bu JH(卜建辉)
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2017/05/19
Complexity of the Total Dose Radiation Response of Fully Depleted Silicon On Insulator NMOSFETs 会议论文
作者:  Zheng ZS(郑中山);  Han ZS(韩郑生);  Luo JJ(罗家俊);  Gao JT(高见头);  Li BH(李彬鸿)
收藏  |  浏览/下载：24/0  |  提交时间：2017/05/19
The Current Observer Design for Buck Converter 会议论文
作者:  Luo JJ(罗家俊);  Li BH(李彬鸿);  Li B(李博);  Wang D(王典)
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2017/05/19
Prognostics and Health Management for VDMOS Basedon Physics-of-Failure 会议论文
作者:  Luo JJ(罗家俊);  Han ZS(韩郑生);  Zhang YL(张宇隆);  Wang LL(王路璐);  Gao B(高博)
收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2017/05/19
Bonding Degradation Modeling for High-power Semiconductors 会议论文
作者:  Li Q(李庆);  Wang LX(王立新);  Luo JJ(罗家俊);  Han ZS(韩郑生)
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2017/05/19
Failure Analysis of the VDMOS Device with VSD and RDS (on) Exceeded Limit Based on Reliability Physics 会议论文
作者:  Li Q(李庆);  Gao B(高博);  Deng HT(邓海涛);  Wang LX(王立新);  Luo JJ(罗家俊)
收藏  |  浏览/下载：12/0  |  提交时间：2017/05/19
Improved Single-Event Hardness of Trench Power MOSFET with a Widened Split Gate 会议论文
作者:  Wang LX(王立新);  Han ZS(韩郑生);  Zhang GH(张国欢);  Li BH(李彬鸿);  Li B(李博)
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2017/05/19
低压防雷器件响应特性及其配合研究 会议论文
中国北京, 20160619
作者:  蔡剑碧;  罗佳俊;  于东海;  冷丁丁
收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/12/26

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