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微电子研究所 [3]
内容类型
期刊论文 [3]
发表日期
2015 [3]
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发表日期:2015
专题:微电子研究所
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Enlage the process window of patterns in 22nm node by using mask topography aware OPC and SMO
期刊论文
CSTIC, 2015
作者:
Song ZY(宋之洋)
;
Wei YY(韦亚一)
;
Su YJ(粟雅娟)
;
Guo MR(郭沫然)
;
Dong LS(董立松)
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浏览/下载:9/0
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提交时间:2016/05/31
Thickness optimization for lithography process on different silicon substrate
期刊论文
Proc. of SPIE, 2015
作者:
Su XJ(苏晓菁)
;
Su YJ(粟雅娟)
;
Liu YS(刘艳松)
;
Wei YY(韦亚一)
收藏
  |  
浏览/下载:12/0
  |  
提交时间:2016/05/31
Focus Shift Impacted by Mask 3D And Comparison between Att. PSM and OMOG
期刊论文
Proc. of SPIE, 2015
作者:
Dong LS(董立松)
;
Liu YS(刘艳松)
;
Su XJ(苏晓菁)
;
Song ZY(宋之洋)
;
Wei YY(韦亚一)
收藏
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浏览/下载:15/0
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提交时间:2016/05/31
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