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浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助 限定条件 发表日期：2014     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Screw split ring resonator as building block of three-dimensional chiral metamaterials 期刊论文 2014, 卷号: 378, 页码: 459-462 作者:  Liao, Yong[1,2];  Yang, Shizhong[1];  Shi, Lina[3] 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/11/28 A novel image fusion method for multi-focus image fusion based on the Nonsubsampled Contourlet Transform and multi-scale statistic 期刊论文 2014, 卷号: 11, 页码: 1715-1722 作者:  You, Chunyan[1];  Yang, Shizhong[1];  Zhao, Bo[2];  Liu, Yong[2] 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/11/29 A fast method for sparse decomposition of real second-order polynomial phase signals 期刊论文 2014, 卷号: 10, 页码: 5265-5270 作者:  Ou, Guojian[1,2];  Yang, Shizhong[1];  Jiang, Qingping[1] 收藏  |  浏览/下载：4/0  |  提交时间：2019/11/29 A novel quality metric for image fusion based on mutual information and structural similarity 期刊论文 2014, 卷号: 10, 页码: 1651-1657 作者:  You, Chunyan[1];  Liu, Yong[2];  Zhao, Bo[2];  Yang, Shizhong[1] 收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2019/11/29 Epitaxial growth of homogeneous single-crystalline AlN films on single-crystalline Cu (1 1 1) substrates (EI收录) 期刊论文 Applied Surface Science, 2014, 卷号: 294, 页码: 1-8 作者:  Wang, Wenliang[1];  Yang, Weijia[1];  Liu, Zuolian[1];  Lin, Yunhao[1];  Zhou, Shizhong[1] 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2019/04/25 Application programs  Atomic force microscopy  Copper  Cracks  Crystalline materials  Epitaxial growth  Field emission microscopes  Pulsed laser deposition  Spectroscopic ellipsometry  Substrates  Thick films  Transmission electron microscopy  X ray diffraction   Achieve 2-inch-diameter homogeneous GaN films on sapphire substrates by pulsed laser deposition (EI收录) 期刊论文 Journal of Materials Science, 2014, 卷号: 49, 页码: 3511-3518 作者:  Wang, Wenliang[1];  Yang, Weijia[1];  Liu, Zuolian[1];  Lin, Yunhao[1];  Zhou, Shizhong[1] 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2019/04/25 Atomic force microscopy  Gallium nitride  Optoelectronic devices  Pulsed laser deposition  Sapphire  Scanning electron microscopy