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浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助 限定条件 发表日期：2008    内容类型：其他     已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序 Investigations on Proton-Irradiation-Induced Spacer Damage in Deep-Submicron MOSFETs 其他 2008-01-01 Xue, Shoubin; Wang, Pengfei; Huang, Ru; Wu, Dake; Pei, Yunpeng; Wang, Wenhua; Zhang, Xing 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2015/11/10 THIN GATE OXIDES  HEAVY-ION IRRADIATION  INDUCED LEAKAGE CURRENT  RELIABILITY DEGRADATION  CMOS TRANSISTORS  DEPENDENCE  BREAKDOWN   Investigations on Proton-Irradiation-Induced Spacer Damage in Deep-Submicron MOSFETs 其他 2008-01-01 Shoubin Xue; Pengfei Wang; Ru Huang; Dake Wu; Yunpeng Pei; Wenhua Wang; Xing Zhang 收藏  |  浏览/下载：3/0  |  提交时间：2017/12/03 drain  irradiation  capture  defects  saturation  lager  proton  hardness  degraded  isolation  drain  irradiation  capture  defects  saturation  lager  proton  hardness  degraded  isolation   A new self-aligned BOI (Body-on-insulator) finfet fabricated on bulk SI wafers 其他 2008-01-01 Wang, Runsheng; Xu, Xiaoyan; Zhuge, Jing; Chen, Gang; Wang, Wenhua; Zhang, Xing; Wang, Yangyuan; Huang, Ru 收藏  |  浏览/下载：2/0  |  提交时间：2015/11/13