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Density of defect states in low-k porous SiO2 : F film researched by SCLC method 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA/物理学报, 2006, 卷号: 55, 期号: 6, 页码: 2936-2940
作者:  Gou, J;  He, ZW;  Pan, GH;  Wang, YY
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Dielectric properties and leakage current of MgO/(Ba0.8Sr0.2)TiO3 heterostructured films prepared by sol-gel technique 期刊论文
ACTA PHYSICA SINICA/物理学报, 2006, 卷号: 55, 期号: 4, 页码: 2069-2072
作者:  Jia, JF;  Huang, K;  Pan, QT;  Li, SG;  He, DY
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